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	分体式涂层测厚仪 AR931	产品介绍： 分体式涂层测厚仪-铁基
	涂层测厚仪 TT260	涂层测厚仪TT260(时代)本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。 TT260涂层测厚仪的详细资料： 涂层测厚仪TT260(时代)测头类型 可选，见附表 测量原理 磁感应和电涡流 测量范围 探头决定 低限分辨力 探头决定 探头连接方式 分体式导线连接(可更换) 示值误差 一点校准(um) 探头决定 两点校准(um) 探头决定 测量条件 最小曲率半径(mm) 探头决定 基体最小面积的直径(mm) 探头决定 最小临界厚度(mm) 探头决定 温湿度 0~40℃ 20%RH～90%RH 统计功能 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO．)、标准偏差(S．DEV) 工作方式 直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 测量方式 连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) 上下限设置 有 存储能力 495 个测量值 打印/连接计算
	涂层测厚仪 TT240	涂层测厚仪TT240(时代)本仪器是一种手持式测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。本仪器是材料保护专业必备的仪器。 TT240涂层测厚仪的详细资料： 涂层测厚仪TT240(时代)测头类型 N 测量原理 电涡流 测量范围 0-1250um/0-40um(铜上镀铬) 低限分辨力 1?m(10um以下为0.1um) 探头连接方式 分体式导线连接 示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1.5] 两点校准(um) ±[(1%~3%)H+1.5] 测量条件 最小曲率半径(mm) 凸3 凹10 基体最小面积的直径(mm) ф5 最小临界厚度(mm) 0.3 温湿度 0~40℃ 20%RH～90%RH 统计功能 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO．)、标准偏差(S．DEV) 工作方式 直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 测量方式 连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) 上下限设置 无 存储能力 350 个测量值 打印/连接计算
	涂层测厚仪 TT230	涂层测厚仪TT230(时代)本仪器是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 TT230涂层测厚仪 的详细资料： 涂层测厚仪TT230(时代)测头类型 N 测量原理 电涡流 测量范围 0-1250um/0-40um(铜上镀铬) 低限分辨力 1?m(10um以下为0.1um) 探头连接方式 一体化 示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1.5] 两点校准(um) ±[(1%~3%)H+1.5] 测量条件 最小曲率半径(mm) 凸3 凹10 基体最小面积的直径(mm) ф5 最小临界厚度(mm) 0.3 温湿度 0~40℃ 20%RH～90%RH 统计功能 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO．)、标准偏差(S．DEV) 工作方式 直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 测量方式 连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) 上下限设置 无 存储能力 15 个测
	涂层测厚仪 TT220	涂层测厚仪TT220(时代)本仪器是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》
	涂层测厚仪 TT210	涂层测厚仪TT210(时代)本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
	涂层测厚仪 AR930	AR930 Measuring Range 0-1250μm 测量范围 Accuracy ±(5%H+1)
	涂(镀)层测厚仪 MC-2000A	一、仪器特点：MC-2000A型涂(镀)层测厚仪是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、低电压指示,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
	涂(镀)层测厚仪 MC-2000C	MC-2000C型涂(镀)层测厚仪是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、低电压指示、其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
	涂(镀)层测厚仪 MC-2000D	MC-2000D型涂(镀)层测厚仪是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、低电压指示、其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。
	涡流涂层测厚仪 KD-1	技术参数: 测量范围：0-1200um 测量精度：±(3%厚度值+1)um 存储容量：253个测量值(带日期) (可连接打印机)时钟、日期显示 EL背光、全中文汉显、全属机壳 测量材料：非铁基 外型尺寸：50×95×24mm

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